科研资讯

新质子幻数出现的原子核质量测量

研发家 | 2025-07-09
33

近日,依托兰州重离子加速器冷却储存环,中国科学院现代物理研究所科研人员首次精确测量了极少中子核硅-22的质量,发现硅-22中质子数14是一个新的幻数。7月2日,《物理评论快报》发表了相关成果。

由质子和中子组成的原子核。在原子核中,质子数或中子数为2、8、20、28、50、82、原子核在126时期表现出相对稳定的特性,因此这些数字被称为“幻数”。科学家梅耶在20世纪40-50年代(M. G. Mayer)和简森(J. H. D. Jensen)等待提出原子核的壳体模型,成功地解释了幻数的形成机制,从而在1963年获得诺贝尔物理学奖。

近年来,随着核物理研究向远离稳定线的奇特原子核推进,新幻数出现在一些奇特的核中。然而,这些新幻数几乎都是中子幻数,实验中很少报道新的质子幻数。

在此之前,科学家们发现,在氧-22中,中子数为14,质子数为8,中子数为14,具有“幻数”的特点。根据核结构的镜像对称性,理论上推测,在氧-22的镜像核硅-22中,质子数14也应该是一个幻数。硅-22是目前已知的最缺中子的硅同位素。由于其截面小、使用寿命短,在实验中的产生和测量都面临着巨大的挑战,这一理论推测还没有得到实验的证实。

基于兰州重离子加速器冷却储存环,现代物理研究所原子核质量测量研究团队成功测量了硅-22原子核的基态质量,克服了参考核很少的不利因素,将团队之前首次测试的硅-23质量精度提高了近7倍。

基于新的质量数据,研究小组揭示了硅-22中新质子幻数14的出现,得到了当前先进核理论模型计算的支持。进一步研究发现,虽然硅-22具有类似氧-22的双幻特征,但其结构与氧-22之间存在轻微的对称缺陷。

这项研究加深了人们对奇特原子核结构的认识,对于了解原子核核之间的相互作用,探索原子核在极端环境下的出现边界具有重要意义。

版权及免责声明:本网站所有文章除标明原创外,均来自网络。登载本文的目的为传播行业信息,内容仅供参考,如有侵权请联系删除。文章版权归原作者及原出处所有。本网拥有对此声明的最终解释权
分享

赞一个

33
推荐会议 更多>>
IOP-JPCS出版|第二届控制系统与电气工程国际学术会议(ICCSEE 2026)

EI Compendex,Scopus

IOP-JPCS出版|第二届控制系统与电气工程国际学术会议(ICCSEE 2026)

多届检索

热门会议

2026-04-17 - 2026-04-19
IEEE出版 | 2026年智能感知与自主控制国际学术会议(IPAC 2026)

EI Compendex,Scopus

IEEE出版 | 2026年智能感知与自主控制国际学术会议(IPAC 2026)

优质会议

热门会议

2026-04-24 - 2026-04-26
IOP-JPCS出版|2026年先进电子与自动化技术国际学术会议(AEAT 2026)

EI Compendex,Scopus

IOP-JPCS出版|2026年先进电子与自动化技术国际学术会议(AEAT 2026)

官方推荐

IOP出版

2026-04-24 - 2026-04-26
IOP-JPCS出版|2026年计算力学与智能系统国际学术会议(CMSS 2026)

EI Compendex,Scopus

IOP-JPCS出版|2026年计算力学与智能系统国际学术会议(CMSS 2026)

新会上线

前沿会议

2026-04-24 - 2026-04-26
IEEE出版|第二届先进能源系统与电力电子国际学术会议(AESPE 2026)

IEEE Xplore,EI Compendex,Scopus

IEEE出版|第二届先进能源系统与电力电子国际学术会议(AESPE 2026)

官方推荐

多届检索

2026-05-08 - 2026-05-10
SPIE出版| 2026年机器视觉、检测与三维成像技术国际学术会议(MVDIT 2026)

EI Compendex,Scopus

SPIE出版| 2026年机器视觉、检测与三维成像技术国际学术会议(MVDIT 2026)

新会上线

交叉学科

2026-05-19 - 2026-05-21
IOP-JPCS出版 | 2026年智能制造及测控技术国际学术会议(IMMCT 2026)

EI Compendex,Scopus

IOP-JPCS出版 | 2026年智能制造及测控技术国际学术会议(IMMCT 2026)

官方推荐

优质会议

2026-05-29 - 2026-05-31
IEEE出版|2026年电子电路与传感器技术国际学术会议(ECST 2026)

EI Compendex,Scopus,Google Scholar

IEEE出版|2026年电子电路与传感器技术国际学术会议(ECST 2026)

IEEE出版

优质会议

2026-06-12 - 2026-06-14